Transport at Nanoscale Interfaces Laboratory

Jan. 23, 2020 Seminar at 17:30, VE 102

Joachim JONUSCHEIT, Fraunhofer ITWM, Kaiserslautern: "Einsatz der Terahertz-Messtechnik zur zerstörungsfreien Prüfung"

Abstract

Die Terahertz-Technologie zeigt mit der Nutzung des elektromagnetischen Frequenzbereichs von etwa 0.1 THz bis 10 THz eine rasant fortschreitende Entwicklung. In den letzten zwei Dekaden konnten hier auf nicht nur auf dem wissenschaftlichen Gebiet erhebliche Fortschritte erzielt werden. Mittlerweile rücken auch konkrete Anwendungen in den Fokus, die vermehrt auch von industriellen Unternehmen angegangen werden. Neueste Fortschritte in der Systementwicklung deuten an, dass die Markteinführung dieser zerstörungsfreien und berührungslosen Messtechnik unmittelbar bevorsteht.

Einige Anwendungen aus den nachfolgenden Bereichen sind zurzeit im Fokus der angewandten Forschung und befinden sich im Stadium der praktischen Erprobung:

  • Zerstörungsfreie Prüfung (z. B. Defekt- und Strukturerkennung)
  • Substanz- und Strukturidentifizierung
  • Sicherheit
  • Medizin
  • Kommunikation

Aktuell stehen für den industriellen Einsatz im Wesentlichen zwei Technologien zur Verfügung: Gepulste optische sowie rein elektronische THz-Systeme. Beide Varianten weisen spezifische Vorteile für bestimmte Einsatzgebiete auf. Die generierten Terahertz-Wellen können je nach Systemauslegung für Messungen in Transmissions-, Reflexions- oder Streuanordnung genutzt werden. Neben der reinen Materialcharakterisierung eignen sie sich auch für bildgebende und tomographische Verfahren.

Ziel dieses Vortrages ist es, die Grundlagen der beiden Techniken vorzustellen und einen Einblick in die Möglichkeiten und Perspektiven dieser neuen Messtechnik zur zerstörungsfreien Prüfung anhand ausgewählter Anwendungen zu geben.

 

Vorstand der SGZP

Eintritt frei Gäste sind willkommen