Tätigkeitsgebiet

• Oberflächenanalytik, Dünnfilmtechnologie

Spezialkenntnisse / Spezielle Gerätekenntnisse

• Oberflächenanalytik: XPS, AES, Adhäsion
• Dünnfilmtechnologie: Diamond like Carbon (DLC)

Publikationen

>100

• From Alloying to Nanocomposites- Materials Combinations for Improved Performance of Hard Coatings. A Review, R. Hauert, J. Patscheider,
  Advanced Engineering Materials, 2000, 2, No. 5, p. 247 (2000).
• Production of a microelectrode for intracellular potential measurements based on a Pt/It needle insulated with amorphous hydrogenated carbon., M. Schwank, U. Müller, R. Hauert, R. Rossi, M. Volkert, E. Wintermantel, Sensors and Actuators B 56, pp. 6 (1999).
• Surface analysis and bioreactions of Ti-and V-containing a-C:H, G. Francz, A. Schroeder, R. Hauert,
  Surf. and Interface Anal. 28, p. 3 (1999).
• Control of the Tribological Moisture Sensitivity of Diamondlike Carbon Films by Alloying with F, Ti or Si. R. Gilmore and R. Hauert,
  Surf. Coat. Technol. 398-399, pp. 199 (2001).

Mitgliedschaft in nationalen und internationalen Gremien

• Schweizerische Physikalische Gesellschaft

Curriculum Vitae

• 1979-1982 Physikstudium an der ETH Zürich.
• 1982-1986 Dissertation in Oberflächenanalytik am Institut für Physik der Universität Basel unter der Leitung von Prof. Dr. P. Oelhafen. Für ein Jahr Gastwissenschaftler im IBM-ARC (Almaden Research Center) in San Jose, USA, in der Forschungsgruppe von Dr. E. Kay.
• Ab 1988 an der EMPA Dübendorf in der Abteilung für Oberflächen- und Fügetechnik, seit 1992 Leitung der Gruppe für Oberflächentechnologie.
• 1993 Weiterbildungsaufenthalt am IBM-ARC.