Die Erfindung des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) durch Knoll und Ruska liegt nunmehr 70 Jahre zurück. Das ursprüngliche Ziel, ein Instrument mit einer höheren Auflösung im Vergleich zum Lichtmikroskop zu schaffen, wurde im Laufe der Zeit bei weitem übertroffen. In den Materialwissenschaften präsentiert sich das TEM heute als ein Werkzeug, das massgeblich zum Verständnis der mechanischen, chemischen und physikalischen Eigenschaften der Werkstoffe beiträgt.

Im Vortrag werden die Funktionsweise eines TEM beschrieben und die Untersuchungsmöglichkeiten mit dem Gerät aufgezeigt. Anhand von Beispielen aus laufenden F&E-Projekten (Grenzflächen in metallischen und keramischen Werkstoffen, Nanopartikel, Halbleiterbauelemente und nanostrukturierte Hartstoffbeschichtungen) wird gezeigt, welchen Vorteil TEM-Untersuchungen für die Lösung der vorhandenen Problemstellungen bieten. Die hohe Ortsauflösung bei der chemischen Analytik und die hochauflösende Abbildung kleinster Ausscheidungen erlauben dabei wichtige Aussagen über die Kontrolle des Herstellungsprozesses, der Werkstoffeigenschaften oder der Funktion der Bauteile.

Die Problematik der Probenpräparation wird ebenfalls angesprochen. Hier bieten sich mit der Focussed Ion Beam (FIB) Methode völlig neue Möglichkeiten, insbesondere für die Präparation von inneren Grenzflächen oder bei Werkstoffkombinationen mit stark unterschiedlichen Eigenschaften.

Im Anschluss an den Vortrag besteht die Möglichkeit einer Gerätebesichtigung.
 
 
Leiterin EMPA Akademie
Dr. Anne Satir